(1)顯微鏡法常在放大率450?600倍的顯微鏡下對塵粒 譏行逐個測量，從而取得定向徑、定向等面積徑、投影面積徑等。在測量時整個視野范圍內(nèi)的塵粒數(shù)不得超過50? 70個，避免粒子間的重疊，每次至少測量200個以上。光學顯 微鏡可以測定微米級的粒徑，電子顯微鏡可以測定納米級的 粒徑。

(2)    篩分法取25?200g塵樣（一般取100g作為標準）， 通過一套篩子進行篩分，按不同篩孔上的殘留量計算出不同粒徑 范圍的顆粒質(zhì)量占總質(zhì)量的百分數(shù)。我國采用泰勒標準篩，孔目40fxm。篩分法可用手工和振篩機篩分，任一種篩分都要求 每分鐘通過每只篩子的塵量不超過0. 05g或篩上塵量（未通過篩 孔，留在篩上的粉塵量）的0.1%。

(3)    細孔通過法常用庫爾特（Coulter)計數(shù)器測量，它 使塵粒在電解介質(zhì)中通過孔口，由于電阻的變化而引起電壓的波 動，電壓波動值越大，則塵粒的體積越大。此法測得的是等體積 徑，測得的范圍為0. 6?50(Vm。此法需要的試樣少（2mg)，分 析快，只需幾十秒鐘。

(4)    沉降法制訂此法的依據(jù)是不同大小顆粒在液體介質(zhì)中 的沉降速率各不相同這一原理，它是氣體除塵試驗研究中應(yīng)用廣泛的方法。